Opis
Podstawka testowa ZIF 16 Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów. raster pomiędzy rzędami: 7.62 mm raster: 2.54 mm napięcie: < 50V DC prąd: 100mA/styk żywotność: min. 25.000cykli rezystancja styku: max. 50m? temperatura pracy -25°C ÷ +70°C